Skz1062A ISO13320 0.1-600um 湿式レーザー回折粒度分析装置分析試験機
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Skz1062A ISO13320 0.1-600um 湿式レーザー回折粒度分析装置分析試験機

Skz1062A ISO13320 0.1-600um 湿式レーザー回折粒度分析装置分析試験機

概要 製品ユニットあたりの梱包寸法 84.00 cm * 37.00 cm * 43.00 cm 製品ユニットあたりの総重量 48,000 kg 納期 14 日 (1 - 1 個) ご要望に応じて (> 1 個) 製品説明 SKZ1062A
基礎情報
モデル番号。SKZ1062A
ワークの質量周長<900kg
タイプ材料試験機
最大容量<1000KN
精度のレベル1
ロードアウェイ電子負荷装置
保管方法動的負荷
広告デジタル
コントロールコンピュータ制御
重さ0~100kg
エネルギー源AC220V
商品名粒子径分析レーザー回折粒子
原理ミー散乱理論
標準ISO13320-1
測定範囲0.1μm~600μm
検出器チャンネル70
レーザーパラメータImportierter Halbleiterfaserlaser, R= 635 nm, P>10
動作モード全自動ソフトウェア操作
テストスピード<1 Minute/Zeit
光路校正自動光路校正
正確さ<1 %
輸送パッケージホルツボックス
仕様840mm×370mm×430mm 30kg
商標SKZ
起源中国
HSコード9027809990
生産能力500
梱包と配送
製品ユニットあたりの梱包サイズ 84.00 cm * 37.00 cm * 43.00 cm 製品ユニットあたりの総重量 48,000 kg 納期 14 日 (1 - 1 個)
Zu verhandeln ( >1個)
製品説明

Skz1062A ISO13320 0.1-600um Wet Method Laser Diffraction Particle Size Analyzer Analysis Testing Machine

SKZ1062A 湿式法レーザー粒度分析装置 技術パラメータ: 標準: ISO133201。 測定範囲:0.1~600μm(SKZ1062A)、0.02~1200μm(SKZ1062A-1)2. 精度許容差: ± 1% (国家標準 D50)3. 再現性偏差: ± 1% (国家標準 D50)4。 電気的要件: AC 220 ± 10 V、50 Hz、200 W 原理: フルスケールのミー散乱理論、粒子の屈折率、光学特性、サイズに応じた分散媒の測定粒度分布データを十分に考慮粒子の角度は角度ごとに変化し、散乱光の強度は反粒子群の性能に影響を与えます。 粒子径の計算は一般に、非拘束フィッティング反転と制限フィッティング反転に分けられます。 計算の際、制約付きフィッティング反転では、逆粒度分布の法則に従って、特定の粒子分布が特定の粒子グループに対応すると仮定します。 この種の操作は比較的単純ですが、前述の仮定により、現実との間に必然的に歪みが生じます。これは、テスト時の限られたフィッティング データが粒子の実際の粒度分布を反映していないことを意味します。 非制約フィット テストでは、粒子の仮定の前に反転は行われず、光の強度を使用して粒子のサイズ分布を直接かつ正確に計算します。 このような仮定は、デバイス自体に高い要求を課す合理的な検出器および粒子分類です。 SKZ1062 湿式レーザー粒度分析装置は、不均一、多対象、扇形の検出器アレイと適切なサイズグラデーションの最適化を利用し、粒度分布の正確な測定を可能にします。 特徴★高度な光路設計:フーリエ変換集光試験技術を使用して、最短の焦点距離で最大の範囲を確保し、解像度を効果的に向上させます。 独自の高密度検出ユニットは小さな粒子をテストでき、高密度検出ユニットは超強力です。 完全でシームレスなテスト機能。★ 完全密閉型光ファイバー半導体レーザー:安定性が高く、長寿命の完全密閉型輸入光ファイバー半導体レーザーを使用しています。 その優れた安定性により、優れたテスト再現性が保証されます(耐用年数は30,000時間以上)。 ★ レーザーパワー監視と自動調整:定出力レーザーのみを使用し、レーザーパワーのリアルタイム検出と自動調整機能により、レーザーの問題を効果的に回避します。長期間の使用による電力の減衰。 同時に、ハイフィルター定電流および定電圧レーザー電源を使用して、レーザーの寿命を効果的に延長し、通常の使用時間は30,000時間以上に達します。 ★ 全自動テスト:真に自動テスト、必要なのはサンプルを挿入するだけで、干渉データがなく、手動でデータを選択する必要はありません。 ★ 超音波乾燥防止機能:水がない場合でも超音波による損傷を避けるために、超音波乾燥防止機能を実現できます。 ★ 防塵および耐衝撃設計: 機器全体が密閉され、内部コンポーネントの寿命が大幅に向上するように設計されています。 独自の防振構造により、機器が外部振動の影響を受けるのを効果的に防ぎ、試験結果をより安定して信頼性の高いものにすることができます。 ★自動アライメント:機械中心と光学中心の組み合わせを排他的に使用することにより、光路が自動的に調整され、位置決めはより正確になり、マイクロメートルの範囲に達します。 同時に光路調整速度も常に速くなり、15秒で調整可能です。 自社開発の自動アライメントシステムは、ステッピングモーター、精密ガイドレール、精密コントローラー、ソフトウェアシステムで構成されています。 最小ステップ距離は 0.2 ミクロンで、レーザー ビームの焦点が常に検出器の中心を通過するため、テスト結果とテストの精度が向上します。 再現性。 ★ 気泡のない設計: 新しい設計により、試験サンプル窓に気泡が入らず、気泡による干渉が回避されます。 ★ 残留物のないサンプル: 機器のパイプラインと排水構造が最適化されており、試験サンプル内に液体が残留しません。機器のパイプラインと循環ポンプが次の試験データに影響を与えることは避けてください。 ★ サンプルウィンドウクイックチェンジデバイス:新設計のサンプルウィンドウクイックチェンジデバイスにより、サンプルウィンドウの交換がより便利かつ迅速になります。仕様Skz1062A ISO13320 0.1-600um Wet Method Laser Diffraction Particle Size Analyzer Analysis Testing MachineSkz1062A ISO13320 0.1-600um Wet Method Laser Diffraction Particle Size Analyzer Analysis Testing MachineSkz1062A ISO13320 0.1-600um Wet Method Laser Diffraction Particle Size Analyzer Analysis Testing Machine

Skz1062A ISO13320 0.1-600um Wet Method Laser Diffraction Particle Size Analyzer Analysis Testing Machine

FAQ
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Importierter Halbleiterfaserlaser, λ= 635 nm, p10 mW/td>
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